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美能PID測試系統(tǒng)ME-PV-PID

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蘇州上器試驗(yàn)設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡介

長期泄漏電流會(huì)造成電池片載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻受到腐蝕、封裝材料受到電化學(xué)腐蝕等問題，從而導(dǎo)致電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等影響組件長期發(fā)電量及壽命的現(xiàn)象。

詳細(xì)介紹

什么是潛在誘導(dǎo)退化（PID）測試？

PID測試是對(duì)制造的模塊進(jìn)行的質(zhì)量保證測試，以預(yù)測它們在不同條件下長時(shí)間的性能。對(duì)于太陽能組件的PID測試，將組件置于85°C的溫度下，濕度約為85%，并在1000v負(fù)載下持續(xù)96小時(shí)。PID測試模擬組件暴露在的次電壓和溫度條件下的功率損耗。

如何進(jìn)行潛在誘導(dǎo)退化（PID）試驗(yàn)？

為了進(jìn)行測試，在兩個(gè)金屬電極之間放置了一組像模塊一樣的太陽能電池、聚合物箔和玻璃層堆棧。在加熱底部（接地）電極的同時(shí)，在模塊的上部電極上施加高正電壓（電壓相當(dāng)于PID）。

項(xiàng)目	內(nèi)容
電源	電壓范圍：-2000～2000V 電壓精度：0.5%FS 電壓分辨率：1V 電流能力：1mA
電流傳感器	測試范圍：-1～1mA 測試精度：0.5%FS 分辨率：0.001mA
數(shù)據(jù)采集卡	支持RS485通訊，支持0-5V、0-10V、4-20mA信號(hào)輸入 14位分辨率 20路模擬量輸入 T/C軟件組態(tài)，低電壓電流輸入隔離電壓：3000 Vdc 支持Modbus/RTU控制 DC24V供電
工控機(jī)	電源：300W 內(nèi)存：4G DDR 硬盤：1T 顯示器：DELL-IN1940MW
測試線	材質(zhì)：硅膠耐壓等級(jí)：25KV 芯徑：0.5mm2，多股銅絲工作溫度：-60-250℃ 外徑：5.8mm 長度：標(biāo)配6m/套
溫濕度傳感器	溫度范圍：-40-120℃ 精度：±1℃ 濕度范圍：0-99%RH 精度：±3%RH